絕緣電阻的測(cè)試方法及影響絕緣電阻的因素

　　絕緣電阻的測(cè)試方法及影響絕緣電阻的因素
 

　　電力設(shè)備在運(yùn)行過(guò)程中，絕緣材料一旦開(kāi)始老化就開(kāi)始老化。隨著老化，其絕緣性能下降。任何惡劣的安裝環(huán)境，尤其是溫度和/或化學(xué)污染的環(huán)境，都會(huì)加速這一過(guò)程。這種磨損會(huì)降低絕緣材料的電阻率，從而增加泄漏電流，從而導(dǎo)致在安全(人員和財(cái)產(chǎn))和生產(chǎn)停工成本方面可能嚴(yán)重的事故。
 

　　因此，快速識(shí)別這種惡化很重要，這樣才能采取糾正措施。除了在調(diào)試期間對(duì)新設(shè)備和翻新設(shè)備進(jìn)行的測(cè)量外，對(duì)設(shè)備和設(shè)備進(jìn)行定期絕緣測(cè)試有助于通過(guò)預(yù)防性維護(hù)來(lái)避免此類事故。絕緣測(cè)試通常用作客戶驗(yàn)收測(cè)試，通常由客戶每單位長(zhǎng)度的最小絕緣電阻。
 

　　我們可以從IR測(cè)試中獲得的結(jié)果不是用于在真正的HIPOT測(cè)試中找到絕緣中的局部缺陷，而是提供用作絕緣材料的散裝材料的質(zhì)量的信息。電線和電纜制造商使用絕緣電阻測(cè)試來(lái)跟蹤其絕緣制造工藝，并在工藝變量超出允許限制之前發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。
 

　　測(cè)試絕緣電阻測(cè)試的常見(jiàn)方法
 

　　短時(shí)或現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試在這種方法中，我們只需將兆歐表連接到待測(cè)試的絕緣體上并在短時(shí)間內(nèi)操作，我們將簡(jiǎn)單地在電阻值增加的曲線上選取一個(gè)點(diǎn);通常情況下，30秒內(nèi)的值會(huì)減少，60秒內(nèi)的值會(huì)更多。如果我們測(cè)試的設(shè)備具有非常小的電容，例如短時(shí)間的房屋布線，那么現(xiàn)場(chǎng)讀數(shù)測(cè)試就是必要的。規(guī)則可以說(shuō)明：對(duì)于每1000伏的工作電壓，絕緣電阻應(yīng)約為1兆歐，最小值為1兆歐。
 

　　這種方法與溫度相當(dāng)獨(dú)立，通常可以在沒(méi)有過(guò)去測(cè)試記錄的情況下為我們提供結(jié)論性信息。它基于良好絕緣的吸收效果，與潮濕或受污染的絕緣相比。通過(guò)該方法的測(cè)試有時(shí)被稱為吸收測(cè)試。該測(cè)試也很有價(jià)值，因?yàn)樗c設(shè)備尺寸無(wú)關(guān)。無(wú)論電動(dòng)機(jī)是大還是小，清潔和干燥絕緣電阻的增加都以相同的方式發(fā)生。
 

　　影響絕緣電阻值的常見(jiàn)因素
 

　　電容充電電流：在絕緣充電到滿電壓后開(kāi)始高電流和電流下降的電流(就像第一次打開(kāi)插頭時(shí)花園軟管中的水流一樣)。
 

　　吸收電流：也是初始高電流然后下降(由于時(shí)間阻力法部分討論的原因)。
 

　　為什么我們不推薦用萬(wàn)用表測(cè)量絕緣電阻?
 

　　雖然萬(wàn)用表和兆歐表之間存在一定程度的相似性，但絕緣電阻是使用兆歐表(或類似設(shè)備)測(cè)量的，因?yàn)樗軌虍a(chǎn)生高電壓，在絕緣體中產(chǎn)生應(yīng)力矩。絕緣電阻通常以兆歐或兆歐計(jì)算。總之，萬(wàn)用表測(cè)量導(dǎo)體(線圈)的電阻，而兆歐表測(cè)量隔離組(兩個(gè)線圈相對(duì)于質(zhì)量)的絕緣電阻，這是萬(wàn)用表無(wú)法做到的。